Избран председатель партии "Яблоко"
На Накынской базе АЛРОСА введены в эксплуатацию два современных склада
В Якутске сегодня потеплеет
Алданские вокалисты стали лауреатами республиканского конкурса
В Мирнинском районе совершено вооружённое нападение на магазин

ИА SakhaNews. Специалисты новосибирского Института физики полупроводников СО РАН создали стандарт измерения высоты поверхности, который может использоваться для настройки и калибровки высокоточной аппаратуры, в том числе применяемой в сфере нанотехнологий, сообщил старший научный сотрудник института Сергей Косолобов, передает ТАСС.

"Для области нанотехнологий существование стандартов калибровки приборов, которые измеряют высоту или профиль поверхности, это очень важная задача. Их на данный момент в мире нет, таких стандартов. 90-100 нанометров есть, а все, что меньше, - нет. Мы создали такой эталонный объект, его сейчас регистрируют в государственном реестре средств измерений", - сказал Косолобов. Он рассказал, что первоначально ученые занимались созданием идеально гладкой поверхности и учились контролировать перестройку атомов при внесении изменений в структуру какой-либо поверхности, например, образца кремния. Физикам удалось получить поверхности, которые не содержат на себе слоев атомов - "атомных ступеней".

"Зачем это нужно? Когда нам приносят биологи какой-то объект и говорят: "Мы хотим знать его форму", - мы должны положить его на какую-то подложку. Но если подложка сама имеет какую-то форму, мы будем мерить совокупность двух форм, и реальную трудно вычленить", - пояснил Косолобов.

Впоследствии физики начали располагать на заданных местах поверхности от одной до нескольких сотен "атомных ступеней", что и привело к созданию нового стандарта измерений высоты. Этот стандарт уже используется производителями атомно-силовых и интерференционных микроскопов.

Поделиться в соцсетях

Если вы стали очевидцем интересного события или происшествия, присылайте фото и видео на Whatsapp 8 909 694 82 83
30.04.2015 20:41 (UTC+9)

ЛЕНТА НОВОСТЕЙ